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多功能X射线衍射仪XRD

浙江大学温州研究院12号楼1楼

索老师 / 汪老师

17758146186 / 13819492849

SmartLab

日本理学株式会社

2022-03-31

正常

原理:

       一束波长为λ的X射线透过晶体时,某一特定方向上的散射X射线发生叠加,这种现象称为X射线衍射。通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。该设备是材料研究过程中的必备测试手段,适用于单晶、多晶、非晶和纳米等各类材料。


主要功能特色:

       测试晶体结构分析

       物相定性定量分析

       晶粒大小分析

       结晶度分析

       宏观和微观引力分析

       择优取向分析

1. X射线:输出功率≥3kW;管电压:≥40KV;管电流:≥35mA。

2. 单色器:单色性:Cu Kα1。配备two bounce单色器和four bounce单色器,最高分辨率 ≤ 12秒。

3. 测角仪:扫描方式 θ,2θ scan;可读最小步长 ≤ 0.0001°,角度重现性 ≤ 0.0001°

4. 样品台:配置五轴尤拉环。可以同时满足常规粉末、块材样品分析、薄膜掠入射分析及织构分析而无需更换样品台。

5. 密封式X射线光管(Cu靶),国际标准尺寸光管。

6. Rx轴:-5~5° (最小步长:0.001°),Ry轴:-5~5° (最小步长: 0.0013°)。

7. 探测器: 一维探测器通道数>250道,探测器窗口面积>360mm2,具有静态扫描功能,支持零维,一维工作方式。同时适合常规物相分析,也适合薄膜反射率,倒易空问扫描RSM,不需更换探测器。

送样条件:

粉末、块体/薄膜     无毒性、无挥发性

①粉末样品:0.1g以上,要求干燥且研磨至微米级粒径。

②块体/薄膜样品:长宽为1-2 cm,厚度≤15mm,请标注好测试面。


预约说明:

1、需提前预约使用。

2、预约前联系设备管理员,预约请注明测试条件。

3、非测试人员不得操作仪器。

4、其他详尽事宜,请电话联系。