超快时间分辨荧光成像系统由正置共聚焦荧光显微镜、条纹相机、光谱仪、皮秒激光器、液氮低温恒温系统、荧光寿命成像模块等组成。

主要功能特色：

       主要用于半导体发光性质测试、发光动力学及发光机理分析及材料缺陷表征等，是研究半导体材料载流子动力学、发光材料微区光谱、超快时间分辨光学性质的理想工具。

测试内容：

       显微超短荧光寿命测试

       显微稳态荧光Mapping测试

       变温显微荧光光谱及寿命测试

1.可测量最短荧光寿命：2ps。

2.光谱范围：200nm-900nm。

3.同步扫描频率：40-250 MHz。

4.显微稳态光谱测量范围：200-1100nm。

5.温度范围：80k-500k连续可调。

6.光谱仪焦距：≥320mm，光谱分辨率：≤ 0.08 nm@1200l/mm光栅＆PMD。

7.CCD像素：≥2000x256。

8.显微空间分辨率：≤3um。

9.物镜：10x，50x，100x可见光长焦物镜以及50x紫外长焦物镜。

10.405nm和488nm半导体高重频皮秒激光器。

送检及预约说明:

1、需提前预约使用。

2、预约前联系设备管理员，预约请注明测试条件。

3、非测试人员不得操作仪器。