原理：

       一束波长为λ的Ｘ射线透过晶体时，某一特定方向上的散射X射线发生叠加，这种现象称为X射线衍射。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。该设备是材料研究过程中的必备测试手段，适用于单晶、多晶、非晶和纳米等各类材料。

主要功能特色：

       测试晶体结构分析

       物相定性定量分析

       晶粒大小分析

       结晶度分析

       宏观和微观引力分析

       择优取向分析

       高分辨摇摆曲线

       倒易空间点阵等

1. X射线：输出功率≥3kW；管电压：≥40KV；管电流：≥35mA。

2. 单色器：单色性：Cu Kα1。配备two bounce单色器和four bounce单色器，最高分辨率 ≤ 12秒。

3. 测角仪：扫描方式 θ，2θ scan；可读最小步长 ≤ 0.0001°，角度重现性 ≤ 0.0001°。

4. 样品台：配置五轴尤拉环。可以同时满足常规粉末、块材样品分析、薄膜掠入射分析及织构分析而无需更换样品台。

5. 密封式X射线光管（Cu靶），国际标准尺寸光管。

送样条件：

粉末、块体/薄膜     无毒性、无挥发性

①粉末样品：0.1g以上，要求干燥且研磨至微米级粒径。

②块体/薄膜样品：长宽为1-2 cm，厚度≤15mm，请标注好测试面。

预约说明：

1、需提前预约使用。